良率学习 的英文是 Yield Learning
领域：半导体
常见误译：常见错误是把良率学习译成“产能学习”或“生产效率学习”，丢掉了背后缺陷驱动的改进过程。
良率学习是通过分析晶圆、管芯和工艺数据，定位缺陷来源、区分随机失效与系统性失效，从而提高单晶圆上可用管芯比例的迭代工程方法。它常见于半导体制造文档中的良率报告、缺陷密度趋势图、晶圆图评审和生产会议材料，用来追踪设备、工艺步骤与材料批次带来的改进。
良率学习出现在晶圆厂良率报告、缺陷密度图、晶圆图汇总和生产评审简报中。翻译时常见于制造仪表盘、质量会议纪要、供应商进展更新，需确保良率百分比、分档数据和缺陷分类与截图、图例及图表标签一致。
常见错误是把良率学习译成“产能学习”或“生产效率学习”，丢掉了背后缺陷驱动的改进过程。另一个问题是在投资类文档中把 yield 当作财务收益处理，没有识别半导体语境，导致生产与质量报告中的百分比、分档和根因表述失真。
术语必须在数据手册、设计套件和专利申请中保持一致。任何一个参数不一致都可能传导至制造决策，或削弱专利权利要求；同时，知识产权保密要求适用于整个链条中的每一份文件。
天使翻译在专家审校开始前，会将此类术语锁定至项目术语库，确保同一源术语在提交的所有文档中保持一致。