晶圆图 的英文是 Wafer Map
领域：半导体
常见误译：常见错误是把晶圆图译成“晶圆映射”或“映射晶圆”，把一份具体结果文件变成了过程或动作。
晶圆图是展示晶圆上各管芯良、劣或测试结果空间分布的图形或数据记录，通常以电子文件形式供测试和检测系统使用。它出现在良率报告、晶圆拣测记录和失效分析摘要中，常显示分档代码、缺陷位置和边缘排除区域。
晶圆图出现在良率报告、晶圆拣测汇总、缺陷密度图和失效分析简报中。翻译时常见于测试系统界面、质量仪表盘和客户退货报告，需确保图例、分档代码和坐标标签与源图片及导出的 CSV 表头保持一致。
常见错误是把晶圆图译成“晶圆映射”或“映射晶圆”，把一份具体结果文件变成了过程或动作。另一个问题是弱化边缘管芯、划片槽和坐标等空间标注，工程师在良率或退货分析时难以在实物晶圆上定位失效位置。
术语必须在数据手册、设计套件和专利申请中保持一致。任何一个参数不一致都可能传导至制造决策，或削弱专利权利要求；同时，知识产权保密要求适用于整个链条中的每一份文件。
天使翻译在专家审校开始前，会将此类术语锁定至项目术语库，确保同一源术语在提交的所有文档中保持一致。