分档 的英文是 Binning
领域：半导体
常见误译：常见错误是把 binning 译成“装箱”或泛泛的“分类”，让人误以为是包装或物料搬运，而不是按性能分级。
分档是在晶圆测试或最终测试后，根据速度、功耗或功能等实测参数把半导体器件划分成不同性能等级。它出现在量产测试程序、良率报告和产品数据手册中，等级定义和型号后缀都由测试限值决定。
分档出现在测试工程文档、产品数据手册和良率管理报告中。制造执行系统和追溯记录也会按 bin 码保存测试结果。译者要区分性能分档与目检或机械分选，并理解 bin 是测试结果类别，而不是物理料箱或仓库。
常见错误是把 binning 译成“装箱”或泛泛的“分类”，让人误以为是包装或物料搬运，而不是按性能分级。把 bin 译成“仓库”也不合适，测试程序输出中它表示一个测试结果类别。量产数据里这种译法会干扰良率分析、型号定义和产品追溯。
术语必须在数据手册、设计套件和专利申请中保持一致。任何一个参数不一致都可能传导至制造决策，或削弱专利权利要求；同时，知识产权保密要求适用于整个链条中的每一份文件。
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