扫描链 的英文是 Scan Chain
领域：半导体
常见误译：常见错误是“扫描链”“扫描链路”“扫描通道”在界面和报告中混用，或把内建扫描链与边界扫描 TAP 链统一译成“扫描链”而不加区分。
扫描链是把触发器或锁存器连接成移位寄存器的一种串行结构，用于在测试模式下加载测试向量并移出响应结果。DFT 文档中，扫描链让测试设备用少量引脚就能观察和控制芯片内部状态，是提高可测性的核心手段。
该术语出现在 ATPG 用户手册、DFT 插入报告和芯片调试文档中。翻译内容涉及扫描链长度、链路顺序、固定型故障和跳变故障提示，以及通过扫描链移入移出测试向量的操作说明和界面标签。
常见错误是“扫描链”“扫描链路”“扫描通道”在界面和报告中混用，或把内建扫描链与边界扫描 TAP 链统一译成“扫描链”而不加区分。测试文档中这类不一致会让人分不清加载对象、涉及引脚和适用故障模型。
术语必须在数据手册、设计套件和专利申请中保持一致。任何一个参数不一致都可能传导至制造决策，或削弱专利权利要求；同时，知识产权保密要求适用于整个链条中的每一份文件。
天使翻译在专家审校开始前，会将此类术语锁定至项目术语库，确保同一源术语在提交的所有文档中保持一致。