Critical Dimension关键尺寸

这个术语出现在哪里

关键尺寸出现在工艺规范、量测配方、光学邻近效应修正模型和设计规则文件中。翻译时常见于晶圆厂量测指导、CD-SEM 设备界面、统计过程控制报告和质量记录，需确保 CD 数值、目标偏移与均匀性指标和源文档图片、数据保持一致。

最常见的处理错误

常见错误是把 CD 展开为“光盘”或解释成“关键距离”，在半导体量测语境中完全错误。另一个问题是在配方和界面里缩写与全称不统一，导致 CD、线宽和目标偏移对不上图纸与数据，影响操作和审阅。

为什么一致性呈现至关重要

术语必须在数据手册、设计套件和专利申请中保持一致。任何一个参数不一致都可能传导至制造决策，或削弱专利权利要求；同时，知识产权保密要求适用于整个链条中的每一份文件。

天使翻译在专家审校开始前，会将此类术语锁定至项目术语库，确保同一源术语在提交的所有文档中保持一致。

从资料到项目

半导体文件，接着看什么

核对文件要求

半导体数据手册本地化：一份完整的术语参考 →EDA 软件本地化：从原理图输入到签核 →半导体知识产权专利翻译：跨法域保护权利要求 →

同领域项目，核对文件范围

中芯国际集成电路制造企业年度报告与信息披露类文件，跨多个年度周期连续交付。英文 ⇄ 中文某半导体企业 · LTE 芯片项目LTE 物联网定制芯片项目的技术规范书、招标公告与测试样机送测要求。中文→英语

术语释义与指南供项目沟通参考；具体用词、适用要求和交付范围需结合文件用途确认。