老化测试 的英文是 Burn-in
领域：半导体
常见误译：常见错误是把 burn-in 译成“烧机”或泛泛的“老化”，没有体现它是一段有明确条件的可靠性筛选，而听上去像普通运行时间。
老化测试是在高温、高压或高负载条件下让半导体器件运行一段固定时间，加速早期失效并筛除薄弱器件。它出现在可靠性认证文件、量产测试规程和高可靠性产品的质量记录中，失效数据用于估计早期现场失效率并制定筛选限值。
老化测试出现在可靠性测试计划、环境应力筛选规程和客户质量协议中。车规或工业半导体文档对早期失效要求严格，常会涉及该术语。译者要把老化测试与寿命老化、耐久性测试区分开，并准确传递应力温度、时长和偏置条件。
常见错误是把 burn-in 译成“烧机”或泛泛的“老化”，没有体现它是一段有明确条件的可靠性筛选，而听上去像普通运行时间。还可能把它与寿命老化或高温工作寿命试验混同，导致质量文件中的应力条件、时长和接受标准出错。
术语必须在数据手册、设计套件和专利申请中保持一致。任何一个参数不一致都可能传导至制造决策，或削弱专利权利要求；同时，知识产权保密要求适用于整个链条中的每一份文件。
天使翻译在专家审校开始前，会将此类术语锁定至项目术语库，确保同一源术语在提交的所有文档中保持一致。