可靠性试验 的英文是 Reliability Test
领域：半导体
常见误译：常见错误是把各试验项的缩写按字面展开翻译，导致与国内通用的中文项目名不一致，客户在比对试验矩阵时找不到对应项。
可靠性试验是通过加速应力条件评估器件在预期寿命内失效风险的试验体系，常见项目包括高温工作寿命、温度循环、高压蒸煮和偏压湿热等。试验结果用于判定产品是否满足目标应用的寿命与失效率要求，也是客户认证的必要材料。
可靠性试验出现在认证报告、产品资格认定文件、客户审核材料与失效分析中。翻译时常引用具体标准编号与试验条件，标准号、温度、湿度、时长须原样保留，不能换算或取整。
常见错误是把各试验项的缩写按字面展开翻译，导致与国内通用的中文项目名不一致，客户在比对试验矩阵时找不到对应项。另一个问题是把 qualification 与 reliability test 混为一谈——前者是整套资格认定流程，后者只是其中一类试验。
术语必须在数据手册、设计套件和专利申请中保持一致。任何一个参数不一致都可能传导至制造决策，或削弱专利权利要求；同时，知识产权保密要求适用于整个链条中的每一份文件。
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