探针卡 的英文是 Probe Card
领域：半导体
常见误译：常见错误是把 probe card 译成「探测卡」或「测试卡」。
探针卡是晶圆测试中把测试机的电信号接触到裸片焊盘上的接口部件，由探针、基板与信号调理电路构成。探针的针位精度、接触电阻和使用寿命直接影响测试良率的真实性，针痕过大还会影响后续的键合或凸点工艺。
探针卡出现在测试作业指导书、设备维护规程、良率异常分析与来料验收文件中。翻译时常与针压、过驱动量、清针频次等参数同现，这些参数名在测试车间有固定叫法，须按现场用语处理。
常见错误是把 probe card 译成「探测卡」或「测试卡」。「测试卡」在中文语境里可能指测试用的板卡，指向另一类硬件。另一个问题是把 probe mark 译成「探针标记」，而车间通用说法是「针痕」，译文与现场判定标准对不上会影响缺陷判定。
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