自动测试设备 的英文是 Automatic Test Equipment
领域：半导体
常见误译：常见错误是把 ATE 译成「自动化测试设备」。
自动测试设备是按预设程序对芯片施加激励并测量响应、自动判定合格与否的测试系统，缩写为 ATE。它由测试主机、测试头与接口硬件组成，测试成本与测试时间直接计入芯片的单位成本，因此测试时间优化是量产阶段的常规工作。
自动测试设备出现在测试规范、产能与成本核算、设备采购文件和供应商审核材料中。翻译时首次出现须给出全称与缩写，并注意与「自动化测试」这一软件测试语境的说法区分开。
常见错误是把 ATE 译成「自动化测试设备」。多一个「化」字会让读者联想到软件自动化测试，而这里指的是专用的半导体测试硬件系统。另一个问题是把 tester 与 ATE 在同一份文件里混用不同译名，使设备清单与工艺文件无法对应。
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